半導體行業

機器視覺産品在(zài)芯片制造過程中有廣泛的(de)應用，主要(yào / yāo)包括以(yǐ)下幾個(gè)方面： 一(yī / yì ／yí).晶圓檢測： 機器視覺産品可以(yǐ)用于(yú)晶圓表面的(de)缺陷檢測。通過高分辨率的(de)相機和(hé / huò)圖像處理算法，可以(yǐ)快速準确地(dì / de)檢測晶圓表面的(de)缺陷，如劃痕、污染、裂紋等，以(yǐ)确保晶圓的(de)質量。 機器視覺産品在(zài)晶圓檢測中起到(dào)了(le／liǎo)重要(yào / yāo)的(de)作用，主要(yào / yāo)包括以(yǐ)下幾個(gè)方面： 1.缺陷檢測： 機器視覺産品可以(yǐ)通過高分辨率的(de)相機和(hé / huò)圖像處理算法，對晶圓表面進行缺陷檢測。它可以(yǐ)檢測晶圓表面的(de)各種缺陷，如劃痕、污染、裂紋等。通過對圖像進行分...

機器視覺是(shì)一(yī / yì ／yí)種利用計算機和(hé / huò)數字圖像對物體進行圖像分析和(hé / huò)識别的(de)技術，視覺系統以(yǐ)其檢驗精密度和(hé / huò)速率高而(ér)且高效的(de)防止人(rén)力檢驗面臨的(de)主觀和(hé / huò)個(gè)别差異的(de)優點，在(zài)工業生産檢驗行業中占據更加關鍵的(de)影響力。進一(yī / yì ／yí)步提高了(le／liǎo)監測系統的(de)高效率，并可對監測系統開展數據分析和(hé / huò)剖析。它已經被廣泛應用于(yú)半導體工業中，可以(yǐ)幫助企業提高生産效率和(hé / huò)質量。本文将讨論機器視覺在(zài)半導體工業中的(de)應用和(hé / huò)市場前景。 機器視覺在(zài)半導體業内的(de)應用 一(yī / yì ／yí)、芯片制造過程的(de)檢測 在(zài)半導體工業中，機器...

機器視覺是(shì)一(yī / yì ／yí)種利用計算機和(hé / huò)數字圖像對物體進行圖像分析和(hé / huò)識别的(de)技術，視覺系統以(yǐ)其檢驗精密度和(hé / huò)速率高而(ér)且高效的(de)防止人(rén)力檢驗面臨的(de)主觀和(hé / huò)個(gè)别差異的(de)優點，在(zài)工業生産檢驗行業中占據更加關鍵的(de)影響力。進一(yī / yì ／yí)步提高了(le／liǎo)監測系統的(de)高效率，并可對監測系統開展數據分析和(hé / huò)剖析。它已經被廣泛應用于(yú)半導體工業中，可以(yǐ)幫助企業提高生産效率和(hé / huò)質量。本文将讨論機器視覺在(zài)半導體工業中的(de)應用和(hé / huò)市場前景。 機器視覺在(zài)半導體檢測中的(de)應用 1.表面識别/可控性檢測 在(zài)半導體行業中，...

雖然人(rén)們常用“半導體”指代“集成電路”，但嚴格說(shuō)來(lái)二者并不(bù)是(shì)相同的(de)概念。半導體實際上(shàng)包括二極管、晶體管、集成電路（IC）、傳感器和(hé / huò)光電器件五個(gè)基本大(dà)類。 1、二極管：最簡單的(de)半導體器件 二極管是(shì)最基本的(de)半導體器件類型，隻允許電流沿一(yī / yì ／yí)個(gè)方向流動。 這(zhè)種電流的(de)單向流動使得二極管在(zài)各種應用中都是(shì)必不(bù)可少的(de)，尤其是(shì)在(zài)将交流電（AC）轉換爲(wéi / wèi)直流電（DC）時(shí)。 二極管的(de)種類 1.整流二極管： 這(zhè)些二極管在(zài)電源中将交流電轉換爲(wéi / wèi)直流電...

一(yī / yì ／yí)、晶圓AOI檢測技術的(de)由來(lái) 在(zài)科技日新月異的(de)今天，從智能手機到(dào)高性能計算機，再到(dào)各種智能設備，都離不(bù)開這(zhè)些微小的(de)芯片。而(ér)在(zài)這(zhè)些芯片的(de)生産過程中，一(yī / yì ／yí)個(gè)至關重要(yào / yāo)的(de)環節就(jiù)是(shì)質量檢測。想象一(yī / yì ／yí)下，在(zài)一(yī / yì ／yí)片12寸的(de)晶圓上(shàng)，密密麻麻地(dì / de)排列着幾十上(shàng)百萬粒芯片，如何确保這(zhè)些芯片在(zài)出(chū)貨前都是(shì)完美無瑕的(de)呢？ 如果僅僅依靠人(rén)工進行外觀檢測，那将是(shì)一(yī / yì ／yí)項極其耗時(shí)且容易出(chū)錯的(de)工作。不(bù)僅效率低下，而(ér)且很難保證檢測結果的(de)準确性和(hé / huò)一(yī / yì ／yí)緻性。按照目前的(de)生産速度和(hé / huò)人(rén)工檢測的(de)效率，估計出(chū)貨日...

1.研究背景 随着亞10 nm集成電路芯片逐步進入消費電子(zǐ)、互聯硬件、電子(zǐ)醫療設備等領域，對典型缺陷進行高速識别、定位與分類，将極具挑戰性。而(ér)納米光子(zǐ)學、計算成像、定量相位成像、光學渦旋、多電子(zǐ)束掃描、熱場成像以(yǐ)及深度學習等新興技術，在(zài)提升缺陷靈敏度、分辨率以(yǐ)及對比度等方面已嶄露頭角，這(zhè)将爲(wéi / wèi)晶圓缺陷檢測提供新的(de)可能。 2.晶圓缺陷檢測标準是(shì)什麽？ 評價準則 爲(wéi / wèi)了(le／liǎo)更便捷地(dì / de)研究晶圓缺陷的(de)可檢測性，研究者們建立了(le／liǎo)缺陷檢測靈敏度這(zhè)一(yī / yì ／yí)概念，以(yǐ)定量...